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#microscopie-electronique

  • chimie
  • microscopie-electronique
Pierre-Louis Martin Repéré
article publié le 19/06/2024
 1368

La complémentarité de la microscopie électronique en transmission à balayage (STEM-EDS) et de la spectroscopie de photoélectrons X (XPS) pour l'analyse chimique des couches minces.

Le dépôt de matériaux d'épaisseur nanométriques (couches minces) est un domaine de recherche traitant de nombreux enjeux scientifiques. Les couches...

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